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000
| 02841nam 2200469zi 4500 |
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| 001 | 9.868285 |
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| 003 | CaOODSP |
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| 005 | 20221107162537 |
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| 006 | m o d f |
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| 007 | cr nn||||||||| |
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| 008 | 190213t19851986onca ob f000 0 fre d |
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| 020 | |z0660917084|q(imprimé) |
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| 040 | |aCaOODSP|bfre|erda|cCaOODSP |
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| 041 | |afre|beng |
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| 043 | |an-cn--- |
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| 086 | 1 |aM38-13/84-15F-PDF|zM38-13/84-15F |
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| 100 | 1 |aLeduc, J. |q(Jean), |d1943- |eauteur. |
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| 245 | 10|aMesures de l'impédance à l'interface semi-conducteur-solution / |cJ. Leduc et S.M. Ahmed. |
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| 264 | 1|aOttawa, Canada : |bCentre canadien de la technologie des minéraux et de l'énergie = Canada Centre for Mineral and Energy Technology, |c1985. |
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| 264 | 4|c©1986 |
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| 300 | |a1 ressource en ligne (iv, 84 pages) : |billustrations. |
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| 336 | |atexte|btxt|2rdacontent/fre |
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| 337 | |ainformatique|bc|2rdamedia/fre |
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| 338 | |aressource en ligne|bcr|2rdacarrier/fre |
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| 490 | 1 |aCANMET rapport ; |v84-15F |
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| 500 | |aPublié aussi en anglais sous le titre : Impedance measurements at the semiconductor-solution interface. |
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| 500 | |aTitre de la couverture. |
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| 500 | |a« Juin 1985. » |
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| 500 | |aPublié par : Programme de recherche sur l'énergie et Laboratoires des sciences minérales. |
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| 500 | |aÉdition numérisée de l'imprimé [par Ressources naturelles Canada]. |
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| 504 | |aComprend des références bibliographiques. |
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| 520 | 3 |a« On présente de façon détaillée la physique et la chimie de l'interface semi-conducteur-solution, en insistant particulièrement sur la mesure de l'impédance et la détermination du potentiel du plat des bandes de la surface semi-conductrice. On élabore aussi la théorie fondamentale de la mesure de l'impédance en courant alternatif à l'interfacesemi-conducteur-solution. On décrit enfin les techniques de la mesure de l'impédance et de l'analyse des données ayant servi à établir une méthode de contrôle expérimental et de collecte de données faisant appel à un pont LCR et à un micro-ordinateur. Le logiciel nécessaire a été mis au point » -- Résumé, page i. |
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| 546 | |aComprend un résumé en anglais. |
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| 692 | 07|2gccst|aChimie |
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| 700 | 1 |aAhmed, S. M. |q(Syed M.), |d1943- |eauteur. |
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| 710 | 1 |aCanada. |bÉnergie, mines et ressources Canada. |
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| 710 | 2 |aCentre canadien de la technologie des minéraux et de l'énergie. |
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| 710 | 2 |aProgramme de recherche sur l'énergie (Canada) |
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| 710 | 2 |aLaboratoires des sciences minérales (Canada) |
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| 775 | 08|tImpedance measurements at the semiconductor-solution interface / |w(CaOODSP)9.868283 |
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| 830 | #0|aRapport CANMET ;|v84-15F.|w(CaOODSP)9.864716 |
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| 856 | 40|qPDF|s2.10 Mo|uhttps://publications.gc.ca/collections/collection_2019/rncan-nrcan/m38-13/M38-13-84-15-fra.pdf |
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