000 01895cam  2200361zi 4500
0019.870087
003CaOODSP
00520221107163027
006m     o  d f      
007cr bn|||||||||
008190318s1981    onca    ob   f000 0 fre d
040 |aCaOODSP|bfre|erda|cCaOODSP
043 |an-cn---
0861 |aCo22-141/1981F-PDF
24510|aRapport final : |bfiabilité des transistors à effet de champ en GaAs / |cpréparé pour Directeur général de la technologie spatiale et ses applications, Ministère des communications ; par les départements de génie physique et de génie métallurgique, École polytechnique de Montréal.
264 1|aOttawa, Ontario : |bMinistère des communications, |c1981.
300 |a1 ressource en ligne (55 pages, 21 pages non numérotées) : |billustrations
336 |atexte|btxt|2rdacontent/fre
337 |ainformatique|bc|2rdamedia/fre
338 |aressource en ligne|bcr|2rdacarrier/fre
500 |a« Projet CDT P598. »
500 |a« Contrat MAS 20SU.36100-0-2401. »
500 |a« Soumis par : le Centre de développement technologique de l'École polytechnique de Montréal ... »
500 |a« Le 28 mars 1981. »
500 |aÉdition numérisée de l'imprimé [par Innovation, sciences et développement économique Canada].
504 |aComprend des références bibliographiques.
65310|aTransistors à effet de champ
7101 |aCanada. |bMinistère des communications.
7102 |aÉcole polytechnique (Montréal, Québec). |bDépartement de génie physique.
7102 |aÉcole polytechnique (Montréal, Québec). |bDépartement de génie métallurgique.
7102 |aÉcole polytechnique (Montréal, Québec). |bCentre de développement technologique.
85640|qPDF|s5.55 Mo|uhttps://publications.gc.ca/collections/collection_2019/isde-ised/Co22-141-1981-fra.pdf