Investigation of circuit factors affecting the reliability of GaAs FET microwave oscillators / prepared by Department of Electronics, Carleton University, Ottawa. : Co24-60/1978E-PDF
"This report is based on a study under DSS contract No. 0SU77-00137 of GaAs FET microwave oscillators and circuit related factors affecting the reliability of these components"--Abstract, page i.
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publications.gc.ca/pub?id=9.870741&sl=1
| Ministère/Organisme |
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| Titre | Investigation of circuit factors affecting the reliability of GaAs FET microwave oscillators / prepared by Department of Electronics, Carleton University, Ottawa. |
| Type de publication | Monographie |
| Langue | [Anglais] |
| Format | Texte numérique |
| Document électronique | |
| Note(s) |
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| Information sur la publication |
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| Description | 1 online resource (iv, 47 pages) : charts, figures |
| Numéro de catalogue |
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| Descripteurs |
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