Impedance measurements at the semiconductor-solution interface / J. Leduc and S.M. Ahmed. : M38-13/84-15E-PDF
"The physics and chemistry of the semiconductor-solution interface have been presented in detail with particular reference to impedance measurements and determination of the flat band potential of the semiconductor surface. The basic theory of A.C. circuits applied to impedance measurements at the semiconductor-solution interface has been developed. Techniques for impedance measurements and data analysis have been described for a method using an LCR meter and a computer for experimental control and data acquisition. The necessary software has been developed"--Abstract, page i.
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| Ministère/Organisme |
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| Titre | Impedance measurements at the semiconductor-solution interface / J. Leduc and S.M. Ahmed. |
| Titre de la série |
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| Type de publication | Monographie - Voir l'enregistrement principal |
| Langue | [Anglais] |
| Autres langues publiées | [Français] |
| Format | Texte numérique |
| Document électronique | |
| Note(s) |
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| Information sur la publication |
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| Auteur / Contributeur |
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| Description | 1 online resource (iv, 82 pages) : illustrations. |
| Numéro de catalogue |
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| Numéro de catalogue du ministère | 307071 |
| Descripteurs |
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